詳細(xì)摘要: LD-COS檢測設(shè)備:用于激光芯片貼片后,光性能的檢測設(shè)備。傳統(tǒng)檢測方式為人工上下料,儀器檢測數(shù)據(jù),人工篩選和記錄。本設(shè)備將全面實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化,大大提高芯片檢出效率...
產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時(shí)間:2024-12-10 在線留言深圳互喜智聯(lián)科技有限公司
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