當(dāng)前位置：上海納騰儀器有限公司>>Nano Flip原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM>>Nano Flip原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM

Nano Flip原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號NanoFlip

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地上海

在線詢價收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

農(nóng)機網(wǎng)采購部電話：0571-88918531QQ:2568841715

聯(lián)系方式：查看聯(lián)系方式

更新時間：2025-01-12 12:08:08瀏覽次數(shù)：55次

聯(lián)系我時，請告知來自農(nóng)機網(wǎng)

產(chǎn)品分類 品牌分類

  MPI Titan射頻配件
  內(nèi)應(yīng)力檢測儀
  激光制樣
  ezAFM-便攜式原子力顯微鏡
  半自動晶圓鍵合儀
  原子層沉積系統(tǒng)ALD產(chǎn)品
  高溫3D打印機
  方塊電阻測試儀
  S100型數(shù)字源表
  CLONE雙模式等離子刻蝕機清洗機
  液體顆粒度儀
  Desk V 薄膜沉積解決方案
  BenchTop Turbo熱蒸發(fā)和樣品制備
  Desktop Pro薄膜沉積-磁控濺射
  DV-502 熱蒸發(fā)薄膜沉積
  Explorer 電子束、磁控、熱蒸發(fā) 薄膜沉積
  無掩膜激光直寫
  Novascan紫外臭氧清洗儀
  Leica DCM 3D 三維測量顯微鏡
  金相顯微鏡
  Leica DM2500M正置金相顯微鏡
  Leica DVM2500 徠卡數(shù)字顯微鏡
  多功能無掩膜激光直寫
  SERS芯片基底
  陰極熒光成像光譜探測系統(tǒng)
  Minitom切割設(shè)備
  AFM校準(zhǔn)標(biāo)樣
  GGB微波探針
  Quantifoil多孔載網(wǎng)
  GGB校準(zhǔn)標(biāo)樣
  離子束刻蝕/沉積系統(tǒng)
  AFM基底
  TS150-HP 高功率探針臺
  Scanwave 掃描微波近場阻抗顯微鏡
  MVI散射式掃描近場光學(xué)顯微鏡
  TS150 6寸手動探針臺
  4200A-SCS參數(shù)分析儀
  F40顯微膜厚測量儀
  Zeta20 多模式三維光學(xué)輪廓儀
  原位納米壓痕儀
  EM-AFM 電鏡原位原子力顯微鏡
  Nano observer 電學(xué)原子力顯微鏡
  NX-3DM 可旋轉(zhuǎn)全自動原子力顯微鏡
  NX-Wafer 全自動晶圓檢測原子力顯微鏡
  P17 自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
  NX-HDM 全自動缺陷檢測原子力顯微鏡
  NX-PTR 全自動在線檢測原子力顯微鏡
  NX-Hivac 高真空原子力顯微鏡
  P170 全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
  F50/F54 自動膜厚測量儀
  MPI Titan射頻探針
  D300 經(jīng)濟型高精度臺階儀
  NX20 高精度全自動大面積原子力顯微鏡
  VertiSense 掃描熱學(xué)顯微鏡
  XE-15 大樣品臺工業(yè)原子力顯微鏡
  D500 高精度臺階儀
  D600 高精度探針式輪廓儀/臺階儀
  Profilm 3D光學(xué)輪廓儀
  Nano Flip原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM
  iNano高精度臺式納米壓痕儀
  X2E系列數(shù)位可調(diào)干燥柜
  nGauge便攜式原子力顯微鏡
  NX10 高精度原子力顯微鏡
  P7 晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
  LiteScope 電鏡原位多功能原子力顯微鏡
  XE-7 經(jīng)濟型原子力顯微鏡
  F20單點膜厚測量儀
  SPRm200 表面等離子共振顯微鏡
  iMicro高精度微納米壓痕儀
  電鏡原位偏壓加熱系統(tǒng)
  高精度電子束曝光系統(tǒng)
  MVI原子力顯微鏡與可見-紅外-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)
  原位拉伸臺
  聚合物筆印刷
  原位TEM四自由度納米操縱樣品桿
  原位納米力學(xué)測試系統(tǒng)Nano Indenter® G200
  光譜型橢偏儀
  NX12 生物型原子力顯微鏡
  Zeta-388 自動多模式光學(xué)輪廓儀
  TS200-HP 高功率探針臺
  Zeta-300 多模式光學(xué)輪廓儀
  TS2000-DP 高功率探針臺
  TS50手動小型探針臺
  TS2500-RF 全自動射頻探針臺
  F3 單點膜厚測試儀
  TS200 8寸手動探針臺
  TS2000 自動探針臺
  PA1000功率分析儀
  MTA02微力位移測試操縱系統(tǒng)
  TTR500系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）
  RSA5000系列頻譜分析儀
  高精度納米拉伸系統(tǒng)Nano UTM T150
  MDO34示波器
  原位AFM in SEM
  X1系列數(shù)位可調(diào)干燥柜
  脈沖激光沉積系統(tǒng)（PLD）
  主動隔振臺AMT
  原位MEMS芯片和同步輻射Holder
  In-SEM HT高溫原位納米壓痕儀
  Duramin-4硬度計
  被動隔振臺GWA-TM
  6英寸納米壓印機NIL-150
  Vista-IR 高分辨納米紅外成像與光譜系統(tǒng)
  F60 全自動膜厚測試儀
  F30 在線膜厚測試儀
  柱狀模板
  徠卡多功能離子束研磨儀 Leica EM RES102
  徠卡自動修塊拋光機 Leica EM TXP
  納米壓印膠
  LABOTOM-5/-15切割設(shè)備
  AFM標(biāo)準(zhǔn)樣品
  CITOPRESS 鑲樣機
  CITOPRESS 熱室
  A15系列數(shù)位可調(diào)干燥柜
  拉曼增強試劑
  SEM 耗材
  高溫原位納米壓痕儀
  主動隔振臺ARISTT
  主動隔振臺ARISMD
  被動隔振SOTOTT
  被動隔振臺GWA-M
  被動隔振臺GWA-TO
  主動隔振臺PMT
  TS3000 自動探針臺
  MicroXAM800 白光干涉儀
  TS300 12寸手動探針臺
  3英寸納米壓印機 NIL75
  Diener FEMTO等離子清洗機
  FT-NMT04納米力學(xué)性能測試系統(tǒng)
  ACCUTOM-10/-100切割設(shè)備
  EZ系列立體顯微鏡
  DM 4500P半自動智能數(shù)字式偏光顯微鏡
  徠卡M系列立體顯微鏡LeicaM165FC/205FA
  S系列立體顯微鏡
  徠卡M系列立體顯微鏡LeicaM125/165C/205C/205A
  DM750P專業(yè)偏光顯微鏡
  Z系列立體顯微鏡Leica Z6 APO
  全手動實驗級倒置金相顯微鏡
  DVM 5000三維視頻顯微鏡
  DM 2500P全手動式專業(yè)偏光顯微鏡
  Leica DM750M正立式顯微鏡
  CITOVAC
  定制型隔振系統(tǒng)
  TEM耗材
  徠卡高真空濺射鍍膜儀 Leica EM SCD500
  X射線圖
  EUV/X射線反光鏡
  X射線菲涅耳波帶板（FZP）
  光柵模板
  AFM探針
  MPI 射頻校準(zhǔn)基板
  GGB有源高阻抗針尖
  GGB直流探針
  孔狀模板
  棱鏡耦合儀
  Duramin-40硬度計
  4英寸納米壓印機 NIL-100
  液體顆粒度儀-LPC
  ADR低溫恒溫干式mK系統(tǒng)
  膜厚測量儀
  Estable主動隔振臺
  MTA03 綜合三維納米力學(xué)操縱系統(tǒng)
  BI-4500 高通量全自動表面等離子共振儀
  BI-2500 臺式表面等離子共振儀
  Candela CS920表面缺陷檢測儀
  光學(xué)表面缺陷分析儀
  精密玻璃切割機(桌面型）
  徠卡室溫超薄切片機 Leica EM UC7

暫無信息

上海納騰儀器有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：166條

所在地區(qū)：

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

詳細(xì)介紹

NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進行各種原位力學(xué)測試；也可以直接在大氣環(huán)境下測試。NanoFlip可進行硬度和楊氏模量測試、連續(xù)剛度測試（CSM）、力學(xué)性能譜圖（Mapping）、納米動態(tài)力學(xué)分析（DMA）、劃痕和磨損測試、柱壓縮等測試，可同時將SEM圖像與力學(xué)測試數(shù)據(jù)同步。NanoFlip還可以進行快速壓痕測量，這是在惰性環(huán)境（如手套箱）中研究非均相材料的重要手段。